《 所发布的各款试验设备价格仅为象征性的展示价格,不能作为实际 chéng 交价,实际价格以艾思荔业务员根据客户的要求所做的报价单为准 》
　　半导体hast老化试验箱生产厂商 技术性能指标：
　　1、温度范围：+100℃～+135℃。
　　2、温度波动度：±0、5℃。
　　3、温度均匀度：±1、5℃。
　　4、湿度范围：100%R、H饱和蒸气。
　　5、湿度波动度：±1、5%R、H。
　　6、湿度均匀度：±3、0%R、H。
　　7、压力范围：
　　u相对压力：+0～2kg/cm2。(注：可生产压力范围：+0～3kg/cm2)。
　　u绝对压力：1、0kg/cm2～3、0kg/cm2。
　　u安全压力容量：4kg/cm2=1个环境大气压+3kg/cm2。
　　8、循环方式：水蒸气自然对流循环。
　　9、测时间设置：0～999Hr。
　　10、加压时间：0、00kg/cm2～2、00kg/cm2约30分钟。
　　12、升温时间：由常温升至+132℃约30分钟非线性空载。
　　13、温度变化速率为空气温度平均变化速率,而非产品温度变化速率。
　　14、试验内箱体积供选择： 　　半导体hast老化试验箱生产厂商技术性能指标
　　1.温度范围:+105℃～+132℃。
　　2.温度波动度:±0.5℃。
　　3.温度均匀度:±1.5℃。
　　4.湿度范围:75%～100%R.H(可调节湿度)。
　　5.湿度波动度:±1.5%R.H。
　　6.湿度均匀度:±3.0%R.H。
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